臺(tái)式掃描電鏡

【產(chǎn)品概述】澤攸科技ZEM系列臺(tái)式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該系列產(chǎn)品以高度集成化、操作便捷性和廣泛適用性為核心優(yōu)勢(shì)，覆蓋了從基礎(chǔ)研究到深層次材料分析的多層次需求。ZEM系列采用多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，例如真空分隔技術(shù)，通過電子槍與樣品倉(cāng)的真空分離設(shè)計(jì)，顯著縮短換樣時(shí)間，同時(shí)支持高真空與低真空模式。

產(chǎn)品型號(hào)：ZEM18
更新時(shí)間：2025-05-08
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品詳情

澤攸科技臺(tái)式掃描電鏡ZEM18

產(chǎn)品介紹

臺(tái)式掃描電鏡

澤攸科技臺(tái)式掃描電鏡ZEM18具備10M的電鏡信號(hào)采集帶寬，掃描速度極快，在視頻模式下觀察樣品無(wú)重影或拖影，確保細(xì)節(jié)清晰可見。它配備了多種探測(cè)器，包括SE探測(cè)器、BSE探測(cè)器和EDS探測(cè)器，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品元素分析及形貌襯度的全面分析。該設(shè)備加速電壓范圍為3KV至18KV，配備預(yù)對(duì)中鎢燈絲和一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調(diào)節(jié)。最大樣品尺寸為φ50mm、H 35mm，支持高真空模式，抽真空時(shí)間小于90秒，還提供低真空模式選項(xiàng)。此外，它具有自動(dòng)配置亮度、對(duì)比度和自動(dòng)聚焦等功能，提供視頻模式、快掃模式和慢掃模式等多種成像選擇。

臺(tái)式掃描電鏡