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在發(fā)展中求生存,不斷完善,以良好信譽(yù)和科學(xué)的管理促進(jìn)企業(yè)迅速發(fā)展首頁 > 技術(shù)文章
透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對樣品加熱或加電的原位功能。透射電鏡樣品桿的分類1、氣氛桿:氣氛桿能夠突破現(xiàn)有透射電鏡對于真空度要求的限制,在一個(gè)*封閉的氣體系統(tǒng)中,研究透射電鏡內(nèi)的氣相反應(yīng)過程,如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應(yīng)情況。并結(jié)合控溫模塊,能夠在特定的壓力和溫度下動態(tài)的,實(shí)時(shí)的觀察原子級別的固氣反應(yīng)。同時(shí),該樣品桿可以真正在透射電鏡中進(jìn)行密閉腔室的EDS元素分析??捎脷怏w種類:氫氣、氮?dú)?、氧氣、氬氣、氨氣等?/p> 查看更多
高溫環(huán)境對材料的力學(xué)性能有顯著影響,研究材料在高溫條件下的行為對航空航天、能源等領(lǐng)域具有重要價(jià)值。原位加熱臺的應(yīng)用使得在高溫環(huán)境中實(shí)時(shí)觀察和分析材料力學(xué)性能的演變成為可能,為材料研發(fā)和工程設(shè)計(jì)提供了關(guān)鍵依據(jù)。??一、擴(kuò)展高溫測試能力??傳統(tǒng)高溫力學(xué)測試受限于外部觀測手段,難以直接觀察材料在高溫下的變形過程。允許在加熱過程中同步進(jìn)行力學(xué)加載和顯微觀察,打破了這一限制。研究人員可實(shí)時(shí)監(jiān)測材料在升高溫度下的變形行為、裂紋萌生與擴(kuò)展過程,獲得高溫下材料性能的動態(tài)信息,深入了解材料在高...
了解更多原位拉伸臺是材料力學(xué)性能研究中重要的設(shè)備,可實(shí)時(shí)觀測材料在拉伸過程中的微觀結(jié)構(gòu)變化。其高效的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)和規(guī)范的操作是獲得準(zhǔn)確結(jié)果的關(guān)鍵。??一、實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)的三個(gè)核心要點(diǎn)??先要明確研究目標(biāo),根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)康倪x擇適合的材料和載荷范圍。針對不同屬性的材料,需設(shè)計(jì)差異化的變形路徑。其次,試樣制備必須標(biāo)準(zhǔn)化,確保尺寸精度和表面光潔度符合要求,避免因幾何缺陷導(dǎo)致異常數(shù)據(jù)。要優(yōu)化觀測方案,根據(jù)材料特性選擇合適的顯微成像技術(shù),同時(shí)合理設(shè)置觀察區(qū)域和幀率,捕捉關(guān)鍵變形階段的微觀演變。??二、規(guī)范操作...
了解更多薄壁金屬結(jié)構(gòu)因其在航天和汽車工業(yè)中的廣泛應(yīng)用而備受關(guān)注,尤其是在能量吸收裝置方面。通過優(yōu)化單元胞的形狀和排列,這些結(jié)構(gòu)能夠顯著提升沖擊衰減和能量吸收能力。近年來,隨著金屬增材制造(AM)技術(shù)的發(fā)展,尤其是金屬熔融沉積建模(FDM)技術(shù)的進(jìn)步,復(fù)雜薄壁金屬結(jié)構(gòu)的制造變得更加高效和靈活。金屬FDM技術(shù)通過打印、脫脂和燒結(jié)三個(gè)主要步驟實(shí)現(xiàn)復(fù)雜金屬結(jié)構(gòu)的制造,其優(yōu)勢在于避免了金屬熔化過程中可能出現(xiàn)的元素宏觀和微觀偏析缺陷,同時(shí)降低了制造成本并減少了打印難度。此外,由于金屬粉末被粘合劑...
了解更多鐵電半導(dǎo)體材料因其可切換的自發(fā)極化特性和非易失性存儲能力,對于開發(fā)新型低功耗電子器件和非易失性記憶體具有巨大的潛力。這些材料能夠通過外部電場來調(diào)控其宏觀極化特性,從而影響載流子傳輸性能。然而,要在同一薄膜材料中同時(shí)實(shí)現(xiàn)強(qiáng)大的鐵電性質(zhì)和優(yōu)異的半導(dǎo)體特性卻是一個(gè)巨大的挑戰(zhàn)。錫(Sn)基鈣鈦礦半導(dǎo)體近年來受到了廣泛關(guān)注,這主要?dú)w因于它們的p型特性、較低的載流子有效質(zhì)量以及高遷移率。但是,由于這類材料通常具有較高的載流子濃度,內(nèi)部電場無法被有效屏蔽,導(dǎo)致鐵電極化減弱或消失,使得在Sn...
了解更多掃描電鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)作為現(xiàn)代科學(xué)研究的重要工具,憑借其高分辨率、大景深和強(qiáng)大的綜合分析能力,在材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的作用。本文將深入解析SEM的工作原理、核心優(yōu)勢、應(yīng)用場景及樣品制備要點(diǎn),帶您全面了解這一微觀世界的“透視眼”。一、掃描電鏡(SEM)的工作原理與核心構(gòu)造1.電子束與物質(zhì)的相互作用掃描電鏡的核心原理基于高能電子束與樣品表面的相互作用。當(dāng)電子槍發(fā)射的電子束經(jīng)加速和聚焦后,以納米級直徑掃描樣品表...
了解更多隨著全球節(jié)能減排和環(huán)保要求的日益提高,輕質(zhì)、高強(qiáng)度的鎂合金材料因其優(yōu)異的綜合性能而受到廣泛關(guān)注。鎂合金以其低密度、高比強(qiáng)度和良好的生物相容性等特點(diǎn),在航空航天、汽車制造、電子通訊等領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力。然而,純鎂的強(qiáng)度和硬度較低,限制了其在更廣泛領(lǐng)域的應(yīng)用。為了提高鎂合金的性能,顆粒增強(qiáng)金屬基復(fù)合材料成為了研究的熱點(diǎn)。SiC顆粒因其熱膨脹系數(shù)小、耐磨性好、硬度高及抗氧化性強(qiáng)等特點(diǎn),且不會與Mg形成穩(wěn)定的化合物,被廣泛用于鎂合金的增強(qiáng)相。SiC顆粒與AZ91D鎂合金結(jié)合,不...
了解更多掃描電子顯微鏡分析是掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscopy)分析的簡稱。這種光譜技術(shù)是一種高分辨率表面成像形式,運(yùn)用了光學(xué)顯微鏡原理。掃描電子顯微鏡分析通過聚焦電子束掃描測試樣本,以生成其表面的高分辨率圖像。掃描電子顯微鏡分析快速、無損且極為精確,是當(dāng)下常用的高分辨率表面成像技術(shù)之一,對了解樣本表面形貌與成分至關(guān)重要。掃描電子顯微鏡分析如何運(yùn)作?掃描電子顯微鏡運(yùn)用真空室,防止顯微鏡鏡筒內(nèi)既有分子和原子與電子束相互作用而致使圖像失真,以此保障成像的...
了解更多在眾多工業(yè)生產(chǎn)與科學(xué)研究場景中,精確測量物體表面的粗糙度和輪廓是一項(xiàng)至關(guān)重要的任務(wù)。而臺階儀,作為專業(yè)的測量儀器,在這一領(lǐng)域發(fā)揮著不可替代的關(guān)鍵作用。本文將全面深入地介紹臺階儀,涵蓋其定義用途、工作原理、類型特點(diǎn)等方面,為您呈現(xiàn)關(guān)于臺階儀的詳細(xì)知識畫卷。一、臺階儀的定義與用途臺階儀,英文名為Profilometer,是專門用于測量物體表面輪廓和表面光潔度(表面粗糙度)的儀器。在微觀層面觀察,物體表面實(shí)則是由一系列高度、深度以及間距各不相同的峰谷所構(gòu)成。這些看似細(xì)微的特征差異,...
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